Differenze
Queste sono le differenze tra la revisione selezionata e la versione attuale della pagina.
| Prossima revisione | Revisione precedente | ||
|
aree:microscopia:elettronica:tecniche [2019/04/12 02:20] Gianluca Frustagli creata |
aree:microscopia:elettronica:tecniche [2019/06/18 13:37] (versione attuale) Gianluca Frustagli |
||
|---|---|---|---|
| Linea 1: | Linea 1: | ||
| **Area Microscopia** | **Area Microscopia** | ||
| - | ====== Microscopia Elettronica ====== | + | ====== Unità di Microscopia Elettronica ====== |
| <WRAP tabs> | <WRAP tabs> | ||
| - | * [[start|Servizi]] | + | * [[start|Strumentazione]] |
| - | * [[Strumentazione]] | + | * [[servizi|Servizi]] |
| * [[Tecniche]] | * [[Tecniche]] | ||
| - | * [[richiesta|Richiesta di servizio]] | + | * [[richiesta|Richiesta servizio]] |
| - | * [[chi_siamo|Chi siamo]] | + | * [[chi_siamo|Contatti]] |
| </WRAP> | </WRAP> | ||
| - | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. | + | ==== Tecniche applicate ==== |
| - | Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | + | \\ |
| - | * un microscopio elettronico a trasmissione **Philips EM 208S (FEI)** con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera **MegaViewII (Olympus Soft Imaging Solutions)** per l’acquisizione delle immagini; | + | La nostra facility applica tecniche standard di preparazione dei campioni per l'analisi sia al **TEM** che al **SEM**. Altre tecniche utilizzate comprendono metodi diversi per l’//immunolocalizzazione di antigeni// come ad esempio l'immunomarcatura di campioni visualizzati in contrasto negativo o l'immunomarcatura in pre- e post-embedding su sezioni ultrasottili, e l'immunomarcatura su campioni analizzabili al SEM. |
| - | * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | + | |
| - | \\ \\ \\ \\ | + | \\ |
| - | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine della superficie indagata. L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | + | <WRAP group> |
| + | <WRAP half column centeralign> | ||
| - | Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: | + | <wrap button>**[[.contrasto_negativo:|CONTRASTO NEGATIVO]]**</wrap> \\ [[.contrasto_negativo:|{{ :aree:microscopia:elettronica:contrasto_negativo.jpeg?300 |Contrasto negativo}}]] |
| - | + | ||
| - | * un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione **INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere d'ingrandimento fino a 200K, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti. | + | |
| - | * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | + | |
| \\ | \\ | ||
| - | <WRAP box> | + | <wrap button>**[[.analisi_al_sem:|ANALISI AL SEM]]**</wrap> \\ [[.analisi_al_sem:|{{ :aree:microscopia:elettronica:analisi_al_sem.jpeg?300 |Analisi al SEM}}]] |
| - | ==== Storia ==== | + | |
| - | //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.// | ||
| </WRAP> | </WRAP> | ||
| - | ===== Prestazioni ===== | + | <WRAP half column centeralign> |
| - | L'unità di Microscopia Elettronica offre le seguenti prestazioni: | + | <wrap button>**[[.inclusione_in_resina:|INCLUSIONE IN RESINA]]**</wrap> \\ [[.inclusione_in_resina:|{{ :aree:microscopia:elettronica:inclusione_in_resina.jpeg?300 |Inclusione in resina}}]] |
| - | + | ||
| - | * consulenza tecnica per la valutazione della metodica di microscopia elettronica più opportuna da utilizzare in base alla tematica proposta; | + | |
| - | * preparazione e osservazione dei campioni: l'unità di microscopia elettronica gestisce tutte le fasi di preparazione dei campioni in base alla scelta più idonea del metodo di osservazione; | + | |
| - | * interpretazione dei risultati: le immagini digitali ottenute saranno interpretate, in collaborazione con i ricercatori interessati, al fine di ottenere più informazioni possibili; | + | |
| - | * elaborazione delle immagini in tavole. | + | |
| - | + | ||
| - | ===== Applicazioni possibili ===== | + | |
| - | + | ||
| - | * Microscopia elettronica in contrasto negativo di campioni osservabili a fresco, quali alcuni tipi di macromolecole biologiche, esosomi e organelli cellulari purificati, virus, batteri. =>//[[.:galleria:01|galleria...]]// | + | |
| - | * Microscopia elettronica a trasmissione di tipo tradizionale per l'analisi a livello ultrastrutturale di campioni biologici inclusi in resina epossidica. =>//[[.:galleria:02|galleria...]]// | + | |
| - | * Microscopia elettronica a scansione per l'analisi a livello ultrastrutturale della morfologia di superficie di campioni biologici opportunamente resi conduttivi. =>//[[.:galleria:03|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica su preparati a fresco visualizzati al TEM con contrasto negativo/positivo, per la localizzazione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale. =>//[[.:galleria:04|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica in pre- e post-embedding su sezioni ultrasottili, per la localizzazione di molecole sia intracellulari sia superficiali, mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e visualizzati al TEM. =>//[[.:galleria:05|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica su cellule intere trattate opportunamente per la localizzazione e la distribuzione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e rilevati al SEM tramite segnale degli elettroni retrodiffusi (Z contrast). =>//[[.:galleria:06|galleria...]]// | + | |
| \\ | \\ | ||
| - | === Per accedere al servizio è necessario: === | + | <wrap button>**[[.immunolocalizzazione_di_antigeni:|IMMUNOLOCALIZZAZIONE DI ANTIGENI]]**</wrap> \\ [[.immunolocalizzazione_di_antigeni:|{{ :aree:microscopia:elettronica:immunolocalizzazione_di_antigeni.jpeg?300 |Immunolocalizzazione di antigeni}}]] |
| - | - contattare preliminarmente il personale dell'unità di Microscopia Elettronica; | + | </WRAP> |
| - | - compilare il modulo online '**[[richiesta|Richiesta Servizio]]**' illustrando brevemente la problematica scientifica, tipologia e numero di campioni etc.; | + | </WRAP> |
| - | - verrà quindi fissato un incontro con il personale dell'unità per discutere le modalità, i costi, la tempistica etc. | + | |
| - | + | ||
| - | \\ | + | |
| - | > **Contatti:** | ||
| - | > [[lucia.bertuccini@iss.it|Lucia Bertuccini]] | ||
| - | > [[francesca.iosi@iss.it|Francesca Iosi]] | ||
| - | > ☎ +39 06 4990 2092 | ||
| - | > Dove sono: edificio 1, piano C, stanza 67 | ||
