Differenze
Queste sono le differenze tra la revisione selezionata e la versione attuale della pagina.
| Entrambe le parti precedenti la revisione Revisione precedente | Prossima revisione Entrambe le parti successive la revisione | ||
|
aree:microscopia:elettronica:start [2019/05/23 16:15] Gianluca Frustagli |
aree:microscopia:elettronica:start [2019/06/18 13:38] Gianluca Frustagli Aggiunta "Storia". |
||
|---|---|---|---|
| Linea 32: | Linea 32: | ||
| * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | ||
| + | </WRAP> | ||
| + | |||
| + | \\ | ||
| + | |||
| + | <WRAP box> | ||
| + | ==== Storia ==== | ||
| + | |||
| + | //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.// | ||
| </WRAP> | </WRAP> | ||
