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aree:microscopia:elettronica:start [2019/04/17 10:43] Gianluca Frustagli ↷ Il nome della pagina è stato cambiato da aree:microscopia:elettronica:strumentazione a aree:microscopia:elettronica:start |
aree:microscopia:elettronica:start [2019/06/18 13:38] Gianluca Frustagli Aggiunta "Storia". |
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| * [[servizi|Servizi]] | * [[servizi|Servizi]] | ||
| - | * [[Strumentazione]] | ||
| * [[Tecniche]] | * [[Tecniche]] | ||
| - | * [[richiesta|Richiesta di servizio]] | + | * [[richiesta|Richiesta servizio]] |
| - | * [[chi_siamo|Chi siamo]] | + | * [[chi_siamo|Contatti]] |
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| - | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. | + | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. |
| Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | ||
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| - | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | + | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. |
| Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: | Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: | ||
| Linea 32: | Linea 32: | ||
| * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | ||
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| + | <WRAP box> | ||
| + | ==== Storia ==== | ||
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| + | //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.// | ||
| </WRAP> | </WRAP> | ||
