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aree:microscopia:elettronica:start [2019/04/12 16:47] Gianluca Frustagli |
aree:microscopia:elettronica:start [2019/06/18 13:38] Gianluca Frustagli Aggiunta "Storia". |
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|---|---|---|---|
| Linea 1: | Linea 1: | ||
| **Area Microscopia** | **Area Microscopia** | ||
| - | ====== Microscopia Elettronica ====== | + | ====== Unità di Microscopia Elettronica ====== |
| <WRAP tabs> | <WRAP tabs> | ||
| - | * [[start|Servizi]] | + | * [[start|Strumentazione]] |
| - | * [[Strumentazione]] | + | * [[servizi|Servizi]] |
| * [[Tecniche]] | * [[Tecniche]] | ||
| - | * [[richiesta|Richiesta di servizio]] | + | * [[richiesta|Richiesta servizio]] |
| - | * [[chi_siamo|Chi siamo]] | + | * [[chi_siamo|Contatti]] |
| </WRAP> | </WRAP> | ||
| + | |||
| + | ==== Strumentazione ==== | ||
| + | |||
| + | \\ | ||
| <WRAP justify> | <WRAP justify> | ||
| Linea 19: | Linea 23: | ||
| * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | ||
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| {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | ||
| Linea 28: | Linea 32: | ||
| * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | ||
| + | </WRAP> | ||
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| + | \\ | ||
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| + | <WRAP box> | ||
| + | ==== Storia ==== | ||
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| + | //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.// | ||
| </WRAP> | </WRAP> | ||
