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- | * [[richiesta|Richiesta di servizio]] | + | * [[richiesta|Richiesta servizio]] |
- | * [[chi_siamo|Chi siamo]] | + | * [[chi_siamo|Contatti]] |
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- | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. | + | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. |
Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | ||
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* un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | ||
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- | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | + | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. |
Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: | Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: |