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Gianluca Frustagli
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+**Microscopy Area**
+====== Electron Microscopy Unit ======
-**Area Microscopia**
-====== Unità di Microscopia Elettronica ======
 <WRAP tabs>
-  * [[start|Strumentazione]]
+  * [[start|Lab resources]]
-  * [[servizi|Servizi]]
+  * [[servizi|Servicies]]
-  * [[Tecniche]]
+  * [[tecniche|Techniques]]
-  * [[richiesta|Richiesta servizio]]
+  * [[richiesta|Service request]]
-  * [[chi_siamo|Contatti]]
+  * [[chi_siamo|Contacts]]
 </WRAP>
-==== Strumentazione ====
+==== Lab resources ====
 \\
 <WRAP justify>
-{{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.
+{{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} <wrap em>Transmission Electron Microscopy (TEM)</wrap> allows to obtain high resolution images by high energy transmitted electrons from an ultrathin (<100nm)  and adequately contrasted sample.
-Il servizio TEM prevede l'utilizzo di:
+TEM service is equipped with:
-  * un microscopio elettronico a trasmissione **Philips EM 208S (FEI)** con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera **MegaView III (Olympus Soft Imaging Solutions)** per l’acquisizione delle immagini;
+  * Transmission Electron Microscope **Philips EM208S (FEI)** with a tungsten filament as electron source and x200K maximum magnification;
-  * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica.
+  * image acquisition system **MegaView III** (Olympus Soft Imaging Solutions);
+  * **Ultramicrotome LEICA UC6** for sectioning of samples embedded in epoxy and acrylic resins.
-\\ \\ \\ \\ \\
+\\ \\ \\ \\ \\ \\
-{{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em bigger>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
+<wrap em>Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM)</wrap> allows to obtain high resolution  three dimensional images from an adequately treated sample. A very high collimated electron beam interacts with a conductive sample scanning an area from which it induces the emission of secondary electrons. \\ These are collected to produce a such high focal depth image to permit detailed analysis of the morphological features of the region of interest.
-Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:
+\\
-  * un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione **INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
+{{:aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?0x210|INSPECT F (FEI)}}
-  * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone.
+{{ :aree:microscopia:elettronica:sem-gemini.jpeg?0x210|GeminiSEM 450 (ZEISS)}}
+\\
+SEM service is equipped with:
+  * An high resolution field emission scanning electron microscope **INSPECT F (FEI)** with a resolving power of 1.2nm in SE and 2.5nm in BSE at 30kV. This allows us to examine in addition to the surface details of biological systems such as bacteria, parasites, cells and cell growth patterns, cell-pathogens interactions, tissues;
+  * An high resolution field emission scanning electron microscope **GeminiSEM 450 (ZEISS)**, with Beam Booster technology and a resolving power of 0.5 nm in SE at 15 kV, enabling high resolution imaging from 0.02 a 30 kV. SEM is equipped with: InLens SE and Energy selected Backscatter detectors; VPSE and nanoVP detectors; annular STEM detector; Array Tomography (ATLAS 5). \\ The high Gemini technology allows high resolution analysis even of uncoated biological samples without charging effects. \\ The system is equipped with software for Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) which couples the GeminiSEM 450 and the confocal microscope LSM980.
+  * Instruments for the sample preparation: Critical Point Drying, Sputtering, Vacuum Evaporator.
 </WRAP>
+\\
+<WRAP box>
+==== History ====
+//The electron microscopy service is offered thanks to a shared management agreement between the <wrap em>FAST</wrap> and the <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> and <wrap em>TISP</wrap> centers. In all these structures there are in fact human resources and knowledge coming from the historical area of electron microscopy. The agreement safeguards a cultural heritage that has been present in the Institute for years, allows the advancement of the electron microscopy sector and facilitates the optimization of resources.//
+</WRAP>
+/* > FIXME **To be revised.**\\ //(remove this paragraph once finished)// */