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en:aree:microscopia:elettronica:start [2018/02/17 17:00] Gianluca Frustagli created |
en:aree:microscopia:elettronica:start [2020/02/06 10:32] (current) Gianluca Frustagli |
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| - | > FIXME **This page is not fully translated, yet.**\\ //(remove this paragraph once the translation is finished)// | + | **Microscopy Area** |
| - | **Area Microscopia** | + | ====== Electron Microscopy Unit ====== |
| - | ====== Microscopia Elettronica ====== | + | <WRAP tabs> |
| + | * [[start|Lab resources]] | ||
| + | * [[servizi|Servicies]] | ||
| + | * [[tecniche|Techniques]] | ||
| + | * [[richiesta|Service request]] | ||
| + | * [[chi_siamo|Contacts]] | ||
| + | </WRAP> | ||
| - | ===== Strumentazione ===== | + | ==== Lab resources ==== |
| - | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente. | + | \\ |
| - | Il servizio TEM prevede l'utilizzo di: | + | <WRAP justify> |
| + | {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} <wrap em>Transmission Electron Microscopy (TEM)</wrap> allows to obtain high resolution images by high energy transmitted electrons from an ultrathin (<100nm) and adequately contrasted sample. | ||
| - | * un microscopio elettronico a trasmissione **Philips EM 208S (FEI)** con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera **MegaViewII (Olympus Soft Imaging Solutions)** per l’acquisizione delle immagini; | + | TEM service is equipped with: |
| - | * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica. | + | |
| - | \\ \\ \\ \\ | + | * Transmission Electron Microscope **Philips EM208S (FEI)** with a tungsten filament as electron source and x200K maximum magnification; |
| + | * image acquisition system **MegaView III** (Olympus Soft Imaging Solutions); | ||
| + | * **Ultramicrotome LEICA UC6** for sectioning of samples embedded in epoxy and acrylic resins. | ||
| - | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine della superficie indagata. L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato. | + | \\ \\ \\ \\ \\ \\ |
| - | Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione: | + | <wrap em>Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM)</wrap> allows to obtain high resolution three dimensional images from an adequately treated sample. A very high collimated electron beam interacts with a conductive sample scanning an area from which it induces the emission of secondary electrons. \\ These are collected to produce a such high focal depth image to permit detailed analysis of the morphological features of the region of interest. |
| - | * un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione **INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere d'ingrandimento fino a 200K, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti. | + | \\ |
| - | * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone. | + | |
| + | {{:aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?0x210|INSPECT F (FEI)}} | ||
| + | {{ :aree:microscopia:elettronica:sem-gemini.jpeg?0x210|GeminiSEM 450 (ZEISS)}} | ||
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| - | <WRAP box> | + | SEM service is equipped with: |
| - | ==== Storia ==== | + | |
| + | * An high resolution field emission scanning electron microscope **INSPECT F (FEI)** with a resolving power of 1.2nm in SE and 2.5nm in BSE at 30kV. This allows us to examine in addition to the surface details of biological systems such as bacteria, parasites, cells and cell growth patterns, cell-pathogens interactions, tissues; | ||
| + | * An high resolution field emission scanning electron microscope **GeminiSEM 450 (ZEISS)**, with Beam Booster technology and a resolving power of 0.5 nm in SE at 15 kV, enabling high resolution imaging from 0.02 a 30 kV. SEM is equipped with: InLens SE and Energy selected Backscatter detectors; VPSE and nanoVP detectors; annular STEM detector; Array Tomography (ATLAS 5). \\ The high Gemini technology allows high resolution analysis even of uncoated biological samples without charging effects. \\ The system is equipped with software for Correlative Light and Electron Microscopy (CLEM) which couples the GeminiSEM 450 and the confocal microscope LSM980. | ||
| + | * Instruments for the sample preparation: Critical Point Drying, Sputtering, Vacuum Evaporator. | ||
| - | //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.// | ||
| </WRAP> | </WRAP> | ||
| - | ===== Prestazioni ===== | + | \\ |
| - | L'unità di Microscopia Elettronica offre le seguenti prestazioni: | + | <WRAP box> |
| - | + | ==== History ==== | |
| - | * consulenza tecnica per la valutazione della metodica di microscopia elettronica più opportuna da utilizzare in base alla tematica proposta; | + | |
| - | * preparazione e osservazione dei campioni: l'unità di microscopia elettronica gestisce tutte le fasi di preparazione dei campioni in base alla scelta più idonea del metodo di osservazione; | + | |
| - | * interpretazione dei risultati: le immagini digitali ottenute saranno interpretate, in collaborazione con i ricercatori interessati, al fine di ottenere più informazioni possibili; | + | |
| - | * elaborazione delle immagini in tavole. | + | |
| - | ===== Applicazioni possibili ===== | + | //The electron microscopy service is offered thanks to a shared management agreement between the <wrap em>FAST</wrap> and the <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> and <wrap em>TISP</wrap> centers. In all these structures there are in fact human resources and knowledge coming from the historical area of electron microscopy. The agreement safeguards a cultural heritage that has been present in the Institute for years, allows the advancement of the electron microscopy sector and facilitates the optimization of resources.// |
| - | + | </WRAP> | |
| - | * Microscopia elettronica in contrasto negativo di campioni osservabili a fresco, quali alcuni tipi di macromolecole biologiche, esosomi e organelli cellulari purificati, virus, batteri. =>//[[.:galleria:01|galleria...]]// | + | |
| - | * Microscopia elettronica a trasmissione di tipo tradizionale per l'analisi a livello ultrastrutturale di campioni biologici inclusi in resina epossidica. =>//[[.:galleria:02|galleria...]]// | + | |
| - | * Microscopia elettronica a scansione per l'analisi a livello ultrastrutturale della morfologia di superficie di campioni biologici opportunamente resi conduttivi. =>//[[.:galleria:03|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica su preparati a fresco visualizzati al TEM con contrasto negativo/positivo, per la localizzazione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale. =>//[[.:galleria:04|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica in pre- e post-embedding su sezioni ultrasottili, per la localizzazione di molecole sia intracellulari sia superficiali, mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e visualizzati al TEM. =>//[[.:galleria:05|galleria...]]// | + | |
| - | * Immunomicroscopia elettronica su cellule intere trattate opportunamente per la localizzazione e la distribuzione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e rilevati al SEM tramite segnale degli elettroni retrodiffusi (Z contrast). =>//[[.:galleria:06|galleria...]]// | + | |
| - | <wrap em>Le richieste di prestazione a questa unità, già preventivamente concordate contattando le persone di riferimento, possono essere inviate compilando il modulo on-line '[[richiesta|Richiesta Servizio]]'.</wrap> | + | /* > FIXME **To be revised.**\\ //(remove this paragraph once finished)// */ |
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| - | > **Contatti:** | + | |
| - | > [[lucia.bertuccini@iss.it|Lucia Bertuccini]] | + | |
| - | > [[francesca.iosi@iss.it|Francesca Iosi]] | + | |
| - | > ☎ +39 06 4990 2092 | + | |
| - | > Dove sono: edificio 1, piano C, stanza 67 | + | |
