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Area Microscopia

Unità di Microscopia Elettronica

Strumentazione


La Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM) permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.

Il servizio TEM prevede l'utilizzo di:

  • un microscopio elettronico a trasmissione Philips EM 208S (FEI) con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera MegaView III (Olympus Soft Imaging Solutions) per l’acquisizione delle immagini;
  • un ultramicrotomo LEICA UC6 per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica.





La Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione.
L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.

Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:

  • un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione INSPECT F (FEI) con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
  • gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone.