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Gianluca Frustagli
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Gianluca Frustagli
@@ Linea 1: / Linea 1: @@
 **Area Microscopia**
-====== Microscopia Elettronica ======
+====== Unità di Microscopia Elettronica ======
 <WRAP tabs>
-  * [[start|Servizi]]
+  * [[start|Strumentazione]]
-  * [[Strumentazione]]
+  * [[servizi|Servizi]]
   * [[Tecniche]]
-  * [[richiesta|Richiesta di servizio]]
+  * [[richiesta|Richiesta servizio]]
-  * [[chi_siamo|Chi siamo]]
+  * [[chi_siamo|Contatti]]
 </WRAP>
+==== Strumentazione ====
+\\
 <WRAP justify>
@@ Linea 19: / Linea 23: @@
   * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica.
-\\ \\ \\ \\
+\\ \\ \\ \\ \\
-{{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
+ La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
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+{{:aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?0x210|QUANTA INSPECT F (FEI) }}
+{{ :aree:microscopia:elettronica:sem-gemini.jpeg?0x210|GeminiSEM 450 (ZEISS)}}
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 Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:
-  * un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione **INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
+  * due microscopi elettronici a scansione ad alta risoluzione:
+    *  **QUANTA INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
+    * **GeminiSEM 450 (ZEISS)** con sorgente ad emissione di campo, dotato di tecnologia Beam Booster, può operare da 0.02 a 30 kV (con un potere di risoluzione a 15 kV di 0.5 nm in SE). Lo strumento è dotato di detector InLens per SE e EsB, con un filtro integrato per la  selezione degli e<sup>-</sup> retrodiffusi //low loss//; un detector per l'analisi dei campioni in pressione variabile e nanoVP; un detector anulare STEM; possibilità di Array Tomography (ATLAS 5). \\ L'elevata tecnologia Gemini permette analisi ad alta risoluzione anche di campioni biologici non ricoperti senza avere effetti di carica. \\ Lo strumento è dotato del sistema Shuttle-and-Find per Microscopia Correlativa (CLEM) che accoppia il GeminiSEM 450 e il microscopio confocale LSM980.
   * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone.
+</WRAP>
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+<WRAP box>
+==== Storia ====
+//Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa  della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.//
 </WRAP>