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Gianluca Frustagli creata
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Gianluca Frustagli
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 **Area Microscopia**
-====== Microscopia Elettronica ======
+====== Unità di Microscopia Elettronica ======
 <WRAP tabs>
-  * [[start|Servizi]]
+  * [[start|Strumentazione]]
-  * [[Strumentazione]]
+  * [[servizi|Servizi]]
   * [[Tecniche]]
-  * [[richiesta|Richiesta di servizio]]
+  * [[richiesta|Richiesta servizio]]
-  * [[chi_siamo|Chi siamo]]
+  * [[chi_siamo|Contatti]]
 </WRAP>
+==== Strumentazione ====
+\\
+<WRAP justify>
 {{:aree:microscopia:elettronica:tem.jpeg?200 |}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM)</wrap> permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.
 Il servizio TEM prevede l'utilizzo di:
-  * un microscopio elettronico a trasmissione **Philips EM 208S (FEI)** con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera **MegaViewII (Olympus Soft Imaging Solutions)** per l’acquisizione delle immagini;
+  * un microscopio elettronico a trasmissione **Philips EM 208S (FEI)** con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera **MegaView III (Olympus Soft Imaging Solutions)** per l’acquisizione delle immagini;
   * un ultramicrotomo **LEICA UC6** per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica.
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-{{ :aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?300|}} La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione (SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine della superficie indagata. L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
+ La <wrap em>Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM)</wrap> permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione. \\ L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
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+{{:aree:microscopia:elettronica:sem.jpeg?0x210|QUANTA INSPECT F (FEI) }}
+{{ :aree:microscopia:elettronica:sem-gemini.jpeg?0x210|GeminiSEM 450 (ZEISS)}}
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 Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:
-  * un microscopio elettronico a scansione ad alta risoluzione **INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere d'ingrandimento fino a 200K, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
+  * due microscopi elettronici a scansione ad alta risoluzione:
+    *  **QUANTA INSPECT F (FEI)** con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
+    * **GeminiSEM 450 (ZEISS)** con sorgente ad emissione di campo, dotato di tecnologia Beam Booster, può operare da 0.02 a 30 kV (con un potere di risoluzione a 15 kV di 0.5 nm in SE). Lo strumento è dotato di detector InLens per SE e EsB, con un filtro integrato per la  selezione degli e<sup>-</sup> retrodiffusi //low loss//; un detector per l'analisi dei campioni in pressione variabile e nanoVP; un detector anulare STEM; possibilità di Array Tomography (ATLAS 5). \\ L'elevata tecnologia Gemini permette analisi ad alta risoluzione anche di campioni biologici non ricoperti senza avere effetti di carica. \\ Lo strumento è dotato del sistema Shuttle-and-Find per Microscopia Correlativa (CLEM) che accoppia il GeminiSEM 450 e il microscopio confocale LSM980.
   * gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone.
+</WRAP>
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 //Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa  della strumentazione fra il <wrap em>FAST</wrap> e i Centri <wrap em>FARVA</wrap>, <wrap em>MEGE</wrap> e <wrap em>TISP</wrap>. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.//
 </WRAP>
-===== Prestazioni =====
-L'unità di Microscopia Elettronica offre le seguenti prestazioni:
-  * consulenza tecnica per la valutazione della metodica di microscopia elettronica più opportuna da utilizzare in base alla tematica proposta;
-  * preparazione e osservazione dei campioni: l'unità di microscopia elettronica gestisce tutte le fasi di preparazione dei campioni in base alla scelta più idonea del metodo di osservazione;
-  * interpretazione dei risultati: le immagini digitali ottenute saranno interpretate, in collaborazione con i ricercatori interessati, al fine di ottenere più informazioni possibili;
-  * elaborazione delle immagini in tavole.
-===== Applicazioni possibili =====
-  * Microscopia elettronica in contrasto negativo di campioni osservabili a fresco, quali alcuni tipi di macromolecole biologiche, esosomi e organelli cellulari purificati, virus, batteri. =>//[[.:galleria:01|galleria...]]//
-  * Microscopia elettronica a trasmissione di tipo tradizionale per l'analisi a livello ultrastrutturale di campioni biologici inclusi in resina epossidica. =>//[[.:galleria:02|galleria...]]//
-  * Microscopia elettronica a scansione per l'analisi a livello ultrastrutturale della morfologia di superficie di campioni biologici opportunamente resi conduttivi. =>//[[.:galleria:03|galleria...]]//
-  * Immunomicroscopia elettronica su preparati a fresco visualizzati al TEM con contrasto negativo/positivo, per la localizzazione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale. =>//[[.:galleria:04|galleria...]]//
-  * Immunomicroscopia elettronica in pre- e post-embedding su sezioni ultrasottili, per la localizzazione di molecole sia intracellulari sia superficiali, mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e visualizzati al TEM. =>//[[.:galleria:05|galleria...]]//
-  * Immunomicroscopia elettronica su cellule intere trattate opportunamente per la localizzazione e la distribuzione di antigeni di superficie mediante l'uso di anticorpi secondari marcati con particelle di oro colloidale e rilevati al SEM tramite segnale degli elettroni retrodiffusi (Z contrast). =>//[[.:galleria:06|galleria...]]//
-\\
-=== Per accedere al servizio è necessario: ===
-  - contattare preliminarmente il personale dell'unità di Microscopia Elettronica;
-  - compilare il modulo online '**[[richiesta|Richiesta Servizio]]**' illustrando brevemente la problematica scientifica, tipologia e numero di campioni etc.;
-  - verrà quindi fissato un incontro con il personale dell'unità per discutere le modalità, i costi, la tempistica etc.
-\\
-> **Contatti:**
-> [[lucia.bertuccini@iss.it|Lucia Bertuccini]]
-> [[francesca.iosi@iss.it|Francesca Iosi]]
-> ☎ +39 06 4990 2092
-> Dove sono: edificio 1, piano C, stanza 67