Indice

Area Microscopia

Unità di Microscopia Elettronica

Strumentazione


La Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM) permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.

Il servizio TEM prevede l'utilizzo di:

  • un microscopio elettronico a trasmissione Philips EM 208S (FEI) con sorgente a tungsteno e potere d’ingrandimento fino a 200K, dotato di telecamera MegaView III (Olympus Soft Imaging Solutions) per l’acquisizione delle immagini;
  • un ultramicrotomo LEICA UC6 per il sezionamento dei campioni inclusi in resina epossidica e acrilica.






La Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione.
L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.


QUANTA INSPECT F (FEI) GeminiSEM 450 (ZEISS)


Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:

  • due microscopi elettronici a scansione ad alta risoluzione:
    • QUANTA INSPECT F (FEI) con sorgente ad emissione di campo e potere risolutivo a 30 kV di 1.2 nm in SE e 2.5 nm in BSE, per analisi a livello ultrastrutturale di sistemi biologici quali batteri, parassiti, sistemi cellulari, tessuti.
    • GeminiSEM 450 (ZEISS) con sorgente ad emissione di campo, dotato di tecnologia Beam Booster, può operare da 0.02 a 30 kV (con un potere di risoluzione a 15 kV di 0.5 nm in SE). Lo strumento è dotato di detector InLens per SE e EsB, con un filtro integrato per la selezione degli e- retrodiffusi low loss; un detector per l'analisi dei campioni in pressione variabile e nanoVP; un detector anulare STEM; possibilità di Array Tomography (ATLAS 5).
      L'elevata tecnologia Gemini permette analisi ad alta risoluzione anche di campioni biologici non ricoperti senza avere effetti di carica.
      Lo strumento è dotato del sistema Shuttle-and-Find per Microscopia Correlativa (CLEM) che accoppia il GeminiSEM 450 e il microscopio confocale LSM980.
  • gli strumenti necessari alla preparativa dei campioni: Critical Point Drying, Sputtering, Evaporatore di carbone.


Storia

Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il FAST e i Centri FARVA, MEGE e TISP. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.