Area Microscopia
La Microscopia Elettronica a Trasmissione (TEM) permette di ottenere da un campione sufficientemente sottile (<100nm) e dotato di un opportuno contrasto elettronico, immagini ad alta risoluzione prodotte da elettroni ad alta energia (fino a 100 KeV) trasmessi su uno schermo fluorescente.
Il servizio TEM prevede l'utilizzo di:
La Microscopia Elettronica a Scansione ad Emissione di Campo (FE-SEM) permette di ottenere, da un opportuno campione, immagini tridimensionali ad alta risoluzione. Il principio su cui si basa questo tipo di microscopio è quello di inviare un fascio di elettroni primari su di un campione reso conduttivo e di raccogliere l'immagine dell'area sottoposta a scansione.
L'immagine che si ottiene è dotata di una profondità di campo tale da permettere l’osservazione in dettaglio delle caratteristiche morfologiche del campione analizzato.
Il servizio SEM è dotato della seguente strumentazione:
Il servizio di microscopia elettronica è offerto grazie a un accordo di gestione condivisa della strumentazione fra il FAST e i Centri FARVA, MEGE e TISP. In tutte queste strutture sono presenti infatti risorse umane e conoscenze provenienti dall’area storica della microscopia elettronica. L’accordo salvaguarda un patrimonio culturale presente da anni in Istituto, consente l’avanzamento del settore della microscopia elettronica e facilita l’ottimizzazione delle risorse.